微機(jī)控制高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱現(xiàn)貨推薦

微機(jī)控制高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱現(xiàn)貨推薦

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

 冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于確定電工、電子、和其他一些設(shè)備在存儲(chǔ)、運(yùn)輸、和使用期間可能遇到的溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性。

本試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。.

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、  產(chǎn)品特點(diǎn)：

ü         *的三箱式結(jié)構(gòu)，三個(gè)室體由氣動(dòng)門隔離，避免樣品頻繁移動(dòng)，更有利于試品做通電試驗(yàn)

ü         可分別做高溫、低溫、常溫、高低溫沖擊試驗(yàn)

ü         進(jìn)口制冷機(jī)組及電氣控制零配件，大大提高了設(shè)備運(yùn)行的可靠性

ü         溫度恢復(fù)時(shí)間僅僅5分鐘

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

1、GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

2、GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：高溫試驗(yàn)方法

3、GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  高溫試驗(yàn)

4、GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  低溫試驗(yàn)

5、GB/T2423.22-2001  溫度變化試驗(yàn)方法

6、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)

7、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制